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日立sft9455x射線熒光鍍層測厚儀概述： sft9000系列里很好的機型“sft9455”，搭載75w高速x射線管和雙重檢驗裝置(半導體檢驗裝置十比 例計數管)。適用“薄膜”、“金屬膜”、“極微小部分測定”等所有鍍膜膜厚測定要求的高性能膜 厚測量儀器。而且 “sft9455”在鍍膜厚度測量功能的基礎上還可以用作異物定性分析和材料成分分析。