輪廓儀產品及廠家
規模大：***17年，每年上億銷售額，行業***。貨期短：擁有***高效的物流體系，發貨周期短，閃電送達。價格低：擁有多個代理品牌，正規有***。產品多：無論大小品牌，有型號就能詢。
更新時間:2025-12-15
規模大：***17年，每年上億銷售額，行業***。貨期短：擁有***高效的物流體系，發貨周期短，閃電送達。價格低：擁有多個代理品牌，正規有***。產品多：無論大小品牌，有型號就能詢。
更新時間:2025-12-15
美國defelsko公司新推出的positector spgts1表面粗糙度測量儀又叫表面光潔度儀、表面粗糙度測量儀，儀器分為spgcs1標準型和spgts1綜合型。適合測量物體表面的峰頂-谷底的高度，如噴丸噴砂行業、印刷行業、噴涂防腐行業等表面粗糙度需求的行業使用，可測量表面輪廓和凹坑，只需要很小的測量面積，此功能為大面積區域的評估節省了時間，快速建立通觀的、平均的粗糙度數值。
更新時間:2025-12-12
泰勒粗糙輪廓儀form talysurf pgi blu (3d)泰勒粗糙輪廓儀form talysurf pgi blu (3d)新型的form talysurf pgi blu是一種理想的專門測量小而陡峭的非球面鏡片和模具。應用這一手段包括藍光dvd和未來的高清晰度的手機與相機的鏡片和模具的測量。 能夠測量形狀誤差為50nm的表面（甚至于極其陡峭的表面），外加全自動化式測量，pgi blu理所當然的成為大規模生產和研發部門的理想的鏡片和模具計量儀器。可提供經修飾的三維表面散光圖，很容易保證用戶對產品的各項特征的要求。
更新時間:2025-12-10
布魯克dektakxt （探針式表面輪廓儀）設計創新，實現了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性<5Å。這一里程碑式的產品源自于dektak系列占據業界先地位長達四十年的優異表面測量技術。實現了納米尺度的表面輪廓測量，在微電子、半導體、太陽能、高亮度led、觸摸屏、醫療、科學研究和材料科學域大顯身手。
更新時間:2025-12-09
對led行業、太陽能行業、觸摸屏行業、半dao體行業以及數據存儲行業等，提供全方位非接觸式測量方案，樣品從小至微米級別的微機電器件（mems），大到整個引擎部件，都可以獲得表面形貌、粗糙度、三維輪廓等精zhun數據
更新時間:2025-12-09
對關鍵尺寸的測量十分便捷，廣泛應用于科研以及半導體行業；led行業、太陽能行業、觸摸屏行業及數據存儲行業等，提供全方位非接觸式測量方案，樣品從小至微米別的微機電器件（mems、化合物半導體等），大到整個引擎部件，都可以獲得表面形貌、粗糙度、三維輪廓等jing準數據。
更新時間:2025-12-09
布魯克dektakxt （探針式表面輪廓儀）設計創新，實現了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性<5Å。這一里程碑式的產品源自于dektak系列占據業界ling xian地位長達四十年的優異表面測量技術。實現了納米尺度的表面輪廓測量，在微電子、半導體、太陽能、高亮度led、觸摸屏、醫療、科學研究和材料科學域大顯身手。
更新時間:2025-12-09
陶瓷磚平整度直角度邊直度綜合測定儀@新聞中心適用于測定各種墻面磚、地面磚尺寸及形狀特性之儀器，其所測參數包括面磚的邊直度、直角度、平整度（中心彎曲度、邊彎曲度、翹曲度）等幾項指標。本產品符合：gb/t3810.2-2006，idt iso 10545-2-1995《陶瓷磚－尺寸和表面質量的檢驗》的要求。
更新時間:2025-12-07
依據gb/t 328.25《建筑防水卷材試驗方法 第25部分：瀝青和高分子防水卷材 抗靜態荷載》中第5.7條真空或壓力裝置對儀器的要求設計制造的。
更新時間:2025-12-07
jql04單纖維輪廓儀1.可用來測量單纖維表面的形態和力學拉伸性能。2.通過數字掃描系統獲得纖維材料的表面輪廓。3.掃描時的移動速度可調，拉伸速度和最大位移可控。
更新時間:2025-12-05
三豐輪廓儀特點：◆大幅度提高了驅動速度（x軸：80mm/s z2軸：20mm/s），近一步降低了總測量時間。 ◆為了在一定時段內維持儀器的直線度精度規格，三豐公司才用了具有的耐摩擦性及穩定性
更新時間:2025-12-05
是二維表面粗糙度測量儀、三維表面粗糙度測量儀和輪廓形狀測量儀最高水平的組合，一體化的合理的測量儀器狀解析記錄模式三種功能，
更新時間:2025-12-05
marsurf xc 20是*好的輪廓計量設備。從30年前只有驅動器和xy繪圖的conturograph發展至今帶有*新技術的先進輪廓測量系統。這個**的組合能達到很高的測量標準，驅動器和
更新時間:2025-12-02
taylor hobson輪廓儀pgi2000/2000e/2000s talysurf pgi系列設置簡單，易于使用，專為分析高精密應用而設計。為了滿足現代眾多應用需求，許多部
更新時間:2025-12-02
泰勒·霍普森cci hd非接觸式白光干涉輪廓儀 一；hd適合用于制造和研究領域，可測量厚度至1.5微米的厚膜及厚度至50納米的薄膜涂層。cci hd 是一種非接觸式光學 3d
更新時間:2025-12-02
lk-120m/h型輪廓儀/形狀測量儀外型美觀，操作方便，是一種普及型的手動/電動表面輪廓測量機。可測量各種精密機械零件的素線輪廓形狀參數，角度處理（坐標角度，與 y坐標的夾角，兩直線夾角）、圓處理（圓弧半徑，圓心到圓心距離，圓心到直線距離，交點到圓心的距離，直線到切點的距離）、點線處理（兩直線交點，交點到直線距離，交點與交點距離，交點到圓心的距離）、直線度、凸度、對數曲線、槽深、槽寬、溝邊距、溝心距、輪廓度、傾斜度、垂直距離、水平距離等形狀參數，可廣泛應用于汽車、摩托車、機床、軸承、油泵油嘴等行業工廠車間和計量部門。
更新時間:2025-12-02
基恩士激光三維輪廓儀當面臨各種定制的測量需求時，aop模塊化表面三維測量系統更具有靈活性的模塊化solaris解決方案。根據不同需要，aop系統可以配備不同的3d測量傳感器、多種尺寸的運動平臺以及定制化軟件。其靈活性體現在能夠支持各種應用和不同工作環境，并且可以依據客戶的需求深度定制
更新時間:2025-12-02
contourgttm 集合領xian的64-bit，多功能操作和分析軟件，專利的白光干涉技術以及史wu前例的簡易操作性于一身，是目前最xian進的三維光學輪廓儀。這款第十代的光學輪廓儀可以快速測量垂直方向由埃至毫米級視野范圍內的工業領域中領xian的高分辨率圖像。contourgt是目前功能zui強大，應用范圍zui廣的三維輪廓測量系統。
更新時間:2025-12-02
bruker公司的新型dektak xtl?探針式輪廓儀系統可容納多達350毫米x350毫米的樣品，將dektak®優異的可重復性和再現性應用于大尺寸晶片及面板制造業。dektak xtl集成氣體隔震裝置和方便的交互鎖裝置使儀器在全封閉工作環境下運行，是當今要求苛刻的生產環境的理想之選。 它的雙攝像頭設置使空間感增強，其高水平自動化可zui大限度提高生產量。bruker公司特有的具有圖形識別功能的vision64®生產接口可滿足用戶需求，使數據采集成為一個自主的和可重復的過程，zui大限度地降低操作員的變化帶來的影響。
更新時間:2025-12-02
輪廓儀-形狀測量儀是測量各種精密機械零件素線形狀和截面輪廓形狀的精密設備。在軸承行業中可測量各種滾動體及滾道的素線如：凸出量、接觸角、曲面曲率半徑和基準件角度等，在機械行業中可測量各種零件的直線度、線輪廓度、平行度、傾斜度、角度。特別適用于汽車、拖拉機、摩托車活塞的外型的測量。
更新時間:2025-12-02
輪廓儀-形狀測量儀是測量各種精密機械零件素線形狀和截面輪廓形狀的精密設備。在軸承行業中可測量各種滾動體及滾道的素線如：凸出量、接觸角、曲面曲率半徑和基準件角度等，在機械行業中可測量各種零件的直線度、線輪廓度、平行度、傾斜度、角度。特別適用于汽車、拖拉機、摩托車活塞的外型的測量。
更新時間:2025-12-02
μscan采用模塊化設計，特點是快速測量、不接觸、不破壞、自動化，μscan的中心部件掃描模塊(x/y方向樣品掃描)可以和不同的傳感器，(z方向測量)連用，如confocal point sensor、autofocus sensor、chromatic white light sensor、holographic sensor等。
更新時間:2025-12-02
profilm 3d是一款兼具垂直掃描干涉 (vsi)和高精確度相移干涉 (psi) 技術的經濟型，非接觸，光學輪廓儀，其可以用于多種用途的高精度表面測量。
更新時間:2025-12-02
scan modules measuring range in x,y-direction [mm] resolution in x,y-direction [mm] positioning range in z-direction [mm] max. measuring speed [mm/s]
更新時間:2025-12-02
measuring head cx ci image acquistion module bm 512 digital camera with progressive- scan technology, up to 25fps,
更新時間:2025-12-02
德國bruker公司(前美國veeco公司)是世界頂尖原子力顯微鏡，輪廓儀，臺階儀生產廠家。全球顧客包括半導體、化合物半導體、數據儲存，與多重領域的研究機構。bruker為了維持對高科技產品成長的領先地位，持續推出新產品，期望為顧客提供長期的產品優勢，提升生產良率、增加生產力、提高品質及降低使用成本。
更新時間:2025-12-02
德國bruker公司(前美國veeco公司)是世界頂尖原子力顯微鏡，輪廓儀，臺階儀生產廠家。全球顧客包括半導體、化合物半導體、數據儲存，與多重領域的研究機構。bruker為了維持對高科技產品成長的領先地位，持續推出新產品，期望為顧客提供長期的產品優勢，提升生產良率、增加生產力、提高品質及降低使用成本。
更新時間:2025-12-02
德國bruker公司(前美國veeco公司)是世界頂尖原子力顯微鏡，輪廓儀，臺階儀生產廠家。全球顧客包括半導體、化合物半導體、數據儲存，與多重領域的研究機構。bruker為了維持對高科技產品成長的領先地位，持續推出新產品，期望為顧客提供長期的產品優勢，提升生產良率、增加生產力、提高品質及降低使用成本。
更新時間:2025-12-02
影響su-8輪廓效果的原因1）光刻膠類型及厚度2）xp tqc膠的厚度3）曝光量4）顯影后的去膜量5）曝光類型（靠近或軟接觸）
更新時間:2025-12-02
適用于科研和生產的高質量表面測量手段contourgt-i 3d 光學顯微鏡將三十多年表面測量經驗和技術融合到單一平臺上，實現調整校準自動便捷、測量角度靈活多樣、測試成像性能優異及表面定量測試方案。
更新時間:2025-12-02
用于工藝質量監控定標性測試系統contourgt-x是實驗室開發到批量生產均可適用的儀器。它積累了前十代產品在白光干涉技術上的，實現了快速地三維表面測量，從納米級粗糙度表面的測量到毫米級臺階的測量，垂直分辨率可達亞納米級。可編程的xyz控制和掃描頭自動控制，使得儀器操作簡便易行。配備的vision64軟件，具有業界儀器測量和數據分析功能，而其優化設計的用戶界面為使用者自行定義自動測量和數據分析提供了便利。
更新時間:2025-12-02
德國布魯克 dektakxt 臺階儀（探針式表面輪廓儀）可以提供更高的重復性和分辨率，測量重復性可以達到5å。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年dektak技術，更加鞏固了其行業地位。不論應用于研發還是產品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，dektakxt能夠做到功能更強大，操作更簡易，檢測過程和數據采集更完善。第十代dektakxt臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發光二極管的研發以及材料科學領域。
更新時間:2025-12-02
布魯克公司的新型dektak xtl探針式輪廓儀系統可容納多大350mm*350mm的樣品，將dektak有意的可重復性和再現性應用于大尺寸晶片及面板制造業。dektak xtl集成氣體隔振裝置和方便的交互鎖裝置使儀器在全封閉工作環境下運行，是當今要求苛刻的生產環境的理想之選。它的雙攝像頭設置使空間感增強，其高水平自動化可生產量。
更新時間:2025-12-02
beam monitor激光光束輪廓分析儀是基于旋轉鏡掃描原理的一款適用于非聚焦激光光斑直徑與位置的快速測量的儀器。通過能量強度分布可以確定光束的尺寸及位置，直觀的圖形控制界面，功能強大的專業評測軟件，具有大動態范圍并且可以選擇無線遠程遙控。
更新時間:2025-12-02
紅星楊科技研發生產的hlk-100型白光干涉光學輪廓儀是基于光學干涉原理，實現超精密加工表面形貌和mems、光刻等表面結構的非接觸精密測量，幫助表面形貌功能質量評價和工藝分析。選型表及參數.jpg
更新時間:2025-12-02
kosaka et200基于 windows xp操作系統為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、mems、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現高精度表面形貌分析應用。et200 能精確可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應力等多種表面形貌技術參數。
更新時間:2025-12-02
最新產品
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