原子力顯微鏡（AFM）產品及廠家
全新發布的 afm-in-phenom xl 結合了掃描電子顯微鏡 (sem) 和原子力顯微鏡 (afm) 的優勢，實現了在同一系統中對樣品進行多模態（sem 及 afm 形貌、元素、機械、電學、磁學）關聯分析。
更新時間:2025-12-12
sem 與 afm 是亞納米樣品分析中應用廣泛且互補的兩大技術。將 afm 集成至 sem 中可融合兩者的優勢，實現超高效工作流程，完成傳統 afm 和 sem 難以或無法實現的限性能和復雜樣品分析。
更新時間:2025-12-12
s-snom技術使用金屬鍍層的原子力（afm）探針針尖代替傳統光纖探針來增強樣品的納米尺度區域的散射，散射信號可以在遠場被檢測到。而這些散射信號攜帶了樣品在金屬探針針尖下納米區域的復雜光學性質。具體而言，這些散射光的信息包括光的振幅和相位，通過適當的模型，這些測量可以估算出針尖下樣品納米尺度區域材料的光學常數（n，k）。在某些情況下，光學相位與波長還提供了個與同種材料常規吸收光譜近似的光譜信息
更新時間:2025-12-12
alpha300 ra –在一個系統里面集成化學成分分析和納米級別的結構成像alpha300 ra 是市場上首個高度集成的拉曼原子力顯微鏡系統，可以在標準的alpha 300r共聚焦拉曼系統上通過標準模塊升級即可完成拉曼原子力系統聯用，獲得原位的afm和raman圖像的疊加。alpha300 ra 獨特的設計理念使聯用系統既保留300r強大的化學組分分析能力，同時加入微納級別的表面形貌等特性的分析能力，使研究者能對樣品進行深度完善的分析和理解。
更新時間:2025-12-09
dimension fastscantm 原子力顯微鏡（atomic force microscope，afm），在不損失dimension® icon®超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，zui大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術創新，從根本上解決了afm成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的afm用戶獲得高質量數據的時間,是世界上掃描速度zui快的原子力顯微鏡。
更新時間:2025-12-09
dimension icon 系列作為布魯克公司(bruker axs)原子力顯微鏡的旗艦產品，凝聚了多項行業ling先的zhuan li技術，是二十多年技術創新、客戶反饋和行業應用的結晶。
更新時間:2025-12-09
dimension edge原子力顯微鏡采用了布魯克的一些創新技術，達到了同類產品的zui高水平，為納米尺度的科學研究提供了高效率、高性價比的強大工具。
更新時間:2025-12-09
evs9321-ep evs9321-es evs9322-ep evs9322-es、evs9323-ep evs9323-esevs9324-ep evs9324-es evs9325-ep、evs9325-es evs9326-ep、evs9326-es evs9327-ep evs9327-esevs9328-ep、evs9328-esevs9329-ep evs9329-es 倫茨伺服控制器總代理 lenze聯系人：李厚樂 經理
更新時間:2025-12-05
原子力顯微鏡應用：其應用范圍十分廣泛，利用原子力顯微鏡可以輕松得到樣品的表面觀察、尺寸測定、表面粗糙度、表面顆粒度分析、表面電勢梯度和電荷分布、表面磁疇、生物細胞的表面結構等。可測樣品有：薄膜、納米陶瓷、石墨烯、復合材料、納米復合材料、玻璃、硅片、共聚物、電池材料、半導體材料、納米纖維、蛋白質、納米粉體等。應用行業：高校（理工類）實驗室、科研機構、工業檢測部門。
更新時間:2025-12-03
1000型原子力顯微鏡應用：其應用范圍十分廣泛，利用原子力顯微鏡可以輕松得到樣品的表面觀察、尺寸測定、表面粗糙度、表面顆粒度分析、表面電勢梯度和電荷分布、表面磁疇、生物細胞的表面結構等。可測樣品有：薄膜、納米陶瓷、石墨烯、復合材料、納米復合材料、玻璃、硅片、共聚物、電池材料、半導體材料、納米纖維、蛋白質、納米粉體等。應用行業：高校（理工類）實驗室、科研機構、公安刑偵和工業檢測部門。
更新時間:2025-12-03
dimension 3100 spm使用自動化的原子力顯微鏡和掃描隧道顯微鏡技術，可用來測量直徑可達200毫米的半導體硅片、刻蝕掩膜、磁介質、cd/dvd、生物材料、光學材料和其它樣品的表面特性。
更新時間:2025-12-02
bioscope sz 在非破壞性的光學顯微方法基礎上融入hybrid xyz scanner，能夠提供納米（水平方向）或埃（垂直方向）級的分辨率，與電子顯微鏡（em）相當，比常規光學顯微鏡放大倍率高兩個數量級，而樣品制備、安裝以及光學性能則與常規光學顯微鏡相差無幾。混合型xyz掃描器將z傳感器的噪音水平降低6倍，提供精確的x/y控制用于分子操縱以及高精確度的三軸向閉環控制用于分子"牽引"技術。
更新時間:2025-12-02
多模式原子力顯微鏡◆ 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，穩定；◆ 精密激光及探針定位裝置，更換探針及調節光斑簡單方便；◆ 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，定位掃描區域，使針尖垂直于樣品掃描；◆ 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品；◆ 4x物鏡光學定位，無需調焦，實時觀測與定位探針樣品掃描區域；◆ 彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，防震效果好；
更新時間:2025-12-02
原子力顯微鏡廠家 ◆ 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，穩定；◆ 精密激光及探針定位裝置，更換探針及調節光斑簡單方便；◆ 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，定位掃描區域，使針尖垂直于樣品掃描；◆ 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品；
更新時間:2025-12-02
原子力顯微鏡多少錢◆ 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，穩定；◆ 精密激光及探針定位裝置，更換探針及調節光斑簡單方便；◆ 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，定位掃描區域，使針尖垂直于樣品掃描；◆ 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品；◆ 4x物鏡光學定位，無需調焦，實時觀測與定位探針樣品掃描區域；◆ 彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，防震效果好；◆ 金屬屏蔽隔音箱，
更新時間:2025-12-02
原子力顯微鏡 ◆ 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，穩定；◆ 精密激光及探針定位裝置，更換探針及調節光斑簡單方便；◆ 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，定位掃描區域，使針尖垂直于樣品掃描；◆ 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品；◆ 高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，可根據不同精度和掃描范圍要求選擇；◆ 10x復消色差物鏡光學定位，無需調焦，實時觀測
更新時間:2025-12-02
原子力顯微鏡哪家好◆ 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，穩定；◆ 精密激光及探針定位裝置，更換探針及調節光斑簡單方便；◆ 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，定位掃描區域，使針尖垂直于樣品掃描；◆ 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品；◆ 4x物鏡光學定位，無需調焦，實時觀測與定位探針樣品掃描區域；◆ 彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，防震效果好；◆ 金屬屏蔽隔音箱，
更新時間:2025-12-02
光學原子力顯微鏡一體機 ◆ 光學顯微鏡和原子力顯微鏡一體式設計，光電控制一體化；◆ 同時具備光學和原子力顯微鏡成像功能，兩者可同時掃描成像，互不影響；◆ 同時具備光學二維測量和原子力顯微鏡三維測量功能；◆ 采用了垂直光路設計，配合氣液兩用型探針架可同時在空氣或液體中使用；◆ 利用了高倍光學定位系統，實現探針和樣品掃描區域定位；◆ 簡易的激光光斑調節方式，可通過光學ccd窗口實時觀測及調節光斑；◆ 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，定位掃描區域，使針尖垂直于樣品掃描；◆ 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品；
更新時間:2025-12-02
拉曼原子力顯微鏡一體機 ：◆ 工作模式：接觸、輕敲、f-z力曲線測量、rms-z曲線測量、摩擦力/側向力、振幅/相位、磁力和靜電力◆ 樣品尺寸：φ≤90mm，h≤20mm◆ 掃描范圍：xy向20um，z向2um（可選配xy向50um，z向5um）◆ 掃描分辨率：xy向0.2nm，z向0.05nm
更新時間:2025-12-02
工業型原子力顯微鏡 fm-nanoviewls-afm◆ 實現樣品保持不動，探針移動掃描的原子力顯微鏡；◆ 采用閉環三軸獨立壓電平移式掃描器，大范圍高精度掃描；◆ 樣品尺寸、重量基本不受限制，特別適合集成電路晶圓等超大樣品檢測；◆ 龍門架式掃描頭設計，大理石底座，真空吸附式載物臺；◆ 超大行程二維電動樣品移動臺，快速選擇感興趣的樣品區域；◆ 高倍光學定位系統，實現探針
更新時間:2025-12-02
◆ 工作模式：接觸、輕敲、f-z力曲線測量、rms-z曲線測量、摩擦力/側向力、振幅/相位、磁力和靜電力◆ 樣品尺寸：φ≤90mm，h≤20mm◆ 掃描范圍：xy向20um，z向2um（可選配xy向50um，z向5um）◆ 掃描分辨率：xy向0.2nm，z向0.05nm
更新時間:2025-12-02
?一體式原子力顯微鏡 ◆ 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，穩定；◆ 精密激光及探針定位裝置，更換探針及調節光斑簡單方便；◆ 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，定位掃描區域，使針尖垂直于樣品掃描；◆ 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品；◆ 高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，可根據不同精度和掃描范圍要求選擇；◆ 10x復消色差物鏡光學定位，無需調焦，實時觀測
更新時間:2025-12-02
教學型原子力顯微鏡◆ 小型化及可拆卸化設計，方便攜帶及教學；◆ 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，穩定；◆ 精密激光及探針定位裝置，更換探針及調節光斑簡單方便；◆ 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，定位掃描區域，使針尖垂直于樣品掃描；◆ 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品；◆ 4x物鏡光學定位，無需調焦，實時觀測與定位探針樣品掃描區域；◆ 彈簧懸掛式防震方式，
更新時間:2025-12-02
拉曼原子力顯微鏡一體機 ：◆ 工作模式：接觸、輕敲、f-z力曲線測量、rms-z曲線測量、摩擦力/側向力、振幅/相位、磁力和靜電力◆ 樣品尺寸：φ≤90mm，h≤20mm◆ 掃描范圍：xy向20um，z向2um（可選配xy向50um，z向5um）◆ 掃描分辨率：xy向0.2nm，z向0.05nm◆ 樣品移動范圍：0~20mm
更新時間:2025-12-02
多模式原子力顯微鏡◆ 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，穩定；◆ 精密激光及探針定位裝置，更換探針及調節光斑簡單方便；◆ 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，定位掃描區域，使針尖垂直于樣品掃描；◆ 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品；◆ 4x物鏡光學定位，無需調焦，實時觀測與定位探針樣品掃描區域；◆ 彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，防震效果好；◆ 金屬屏蔽隔音箱，
更新時間:2025-12-02
原子力顯微鏡nanoview6800afm是中國原子力顯微鏡典型代表。擁有多項專利技術的產品，非常的穩定，相比國外幾十萬甚至幾百萬的原子力顯微鏡，飛時曼知道的原子顯微鏡具有非常實用的價值
更新時間:2025-12-02
dimension icon 系列作為布魯克公司(bruker axs) 原子力顯微鏡的旗艦產品，凝聚了多項的專利技術，是二十多年技術創新、客戶反饋和行業應用的結晶。 dimension icon 的出現為科學和工業界在納米尺度的研究帶來了革命性的之作。dimension icon 可以實現所有主要的掃描探針成像技術，其測試樣品尺寸可達：直徑
更新時間:2025-12-02
innova是布魯克公司(bruker axs)所有掃描探針顯微鏡產品中性價比的一款產品，其閉環掃描的噪音水平接近一些開環掃描系統的水平，可廣泛應用于器件表征、物理、材料科學和生命科學領域。集成的符合人體力學的彩色光學系統和可編程馬達驅動的z-樣品臺可快速簡便地尋找特征點以及更換針尖或樣品。innova 的掃描頭由三個獨立的馬達控制，可以方便地調整樣品和針尖的相對位置。另外，通過標配和選配模塊，innova 可進行掃描探針顯微鏡全系列的測量模式，因而具有很強的靈活性和適用性。開放式的設計便于進行用戶化的實驗，如插入電極進行電化學和電學測試。
更新時間:2025-12-02
原子力與倒置光學顯微鏡的結合溶液環境中成像操作簡便、效率高生物樣品簡單的解決方案可用于進行高分辨、分子級成像，活細胞成像和力學性能研究
更新時間:2025-12-02
掃描速度的詮釋，擁有的掃描分辨率，異的儀器檢測性能 dimension fastscantm原子力顯微鏡（atomic force microscope，afm），在不損失dimension® icon®超高的分辨率和的儀器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術創新，從根本上解決了afm成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的afm用戶獲得數據的時間。
更新時間:2025-12-02
掃描探針顯微鏡(spm)平臺是為了在納米尺度研究樣品的表面性質而設計的。它能夠讓我們在幾微米到幾個埃的尺寸下肉眼觀察并定量測量樣品的力學性質（硬度，彈性，粘度），電學性質（導電性，電容性，表面電荷分布）以及磁的性質。solver 平臺擁有超過40 種測量方法，并且實現在大氣，氣氛控制以及液體環境下進行工作。
更新時間:2025-12-02
ntegra平臺是一個革命性的技術概念，在擁有所有spm技術：原子力/磁力/靜電力/表面電勢/導電原子/掃描電容/壓電力/納米刻蝕等功能的同時，還能配備近場光學顯微鏡/共聚焦拉曼/外加磁場/超聲原子力/納米壓痕等功能！。prima則是這個平臺中的基礎spm，可以在此基礎上根據科 研需求提供多達40 中spm 功能，其中的每種功能都有一套在其專業領域有著杰出表現的獨特配置。可選擇配備獨一無二的雙掃描結構可以將掃描范圍擴展最大到200x200um。
更新時間:2025-12-02
ntegra spectra - afm / confocal raman & fluorescence / snom / ters 它將原子力顯微鏡、掃描近場光學顯微鏡，激光共聚焦顯微鏡、熒光光譜和拉曼光譜等各種分析手段完美地結合到一起。借助于針尖增強拉曼散射效應（ters），其拉曼散射光譜和圖像測量的分辨率達到了50
更新時間:2025-12-02
在過去，你必須花費相當長的一段時間并且具備相當豐富的經驗才能通過操作一臺掃描探針顯微鏡獲得好的實驗結果。 然而當你選擇了solver next™之后，那些繁瑣的培訓幾乎是不需要的。對，你沒有看錯！它是一臺任何人都能操作的spm!
更新時間:2025-12-02
gauge原子力顯微鏡作為世界上第一臺單芯片（single-chip）afm，是加拿大滑鐵盧大學(darpa聯合項目)近十年的研發成果。single-chip技術通過cmosmems工藝將afm的所有組件（精細xyz運動和納米級感測）集成到單個1mm x 1 mm的芯片
更新時間:2025-12-02
park nx10 為您帶來納米分辨率的數據，值得您信賴、使用和擁有。 在 smartscan auto 有的智能模式下，系統自動執行所有必要的成像操作，同時智能選擇好的圖像質量和掃描速度。這是通過park的技術才得以實現的。它不僅可以為您節省時間和金錢，還可以給您帶來優質的研究結果。
更新時間:2025-12-02
美國bruker公司(前美國veeco公司)是世界頂尖原子力顯微鏡，輪廓儀，臺階儀生產廠家。全球顧客包括半導體、化合物半導體、數據儲存，與多重領域的研究機構。bruker為了維持對高科技產品成長的領先地位，持續推出新產品，期望為顧客提供長期的產品優勢，提升生產良率、增加生產力、提高品質及降低使用成本
更新時間:2025-12-02
· 高分辨率成像和定量的材料性能成像。· 提供多模塊功能的multimode· 發表論文afm· 峰值力模式實現
更新時間:2025-12-02
dimension fastscan 原子力顯微鏡 (afm)在不損失dimension® icon®分辨率的儀器性能前提下，大限度的成像速度。這項技術，解決了afm成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的afm用戶獲得數據的時間。
更新時間:2025-12-02
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更新時間:2025-12-02
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更新時間:2025-12-02
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