光學測量儀產品及廠家
yy0763標準醫用內窺鏡檢測裝置的檢測功能：1.內窺鏡光纜出光角測試2.光譜透過率測定3.光能傳遞效率測定4.扭轉試驗5.短暫壓扁試驗6.拉伸試驗
更新時間:2025-12-17
燈和燈系統光生物安全檢測設備是西安信捷智能檢測科技有限公司依據行業標準《iec 62471:2006 燈和燈系統的光生物安全性》和《gb/t 20145-2006 燈和燈系統的光生物安全性》研發設計的。
更新時間:2025-12-17
全自動激光檢測分析儀符合標準《iec60825-1:2007》《gb7247.1-2012》《gb9706.20-2000》,用于醫療器械中醫用激光得分類檢測、激光輻射檢測、伴隨輻射檢測、允許照射量檢測、輻射量檢測等。采用觸摸屏控制和計算機軟件雙操作平臺，兩者可兼容操作也可獨立操作。
更新時間:2025-12-17
1、設備的用途：設備中發光源的激光輻射類別檢測、輻射量、伴隨輻射等參數的檢測；2、依據的行業標準：《gb7247.1-2012》、《iec60825-1：2007》
更新時間:2025-12-17
1、滿足標準：《yy 1081—2011醫用內窺鏡 內窺鏡供給裝置 冷光源》；2、設備用途：內窺鏡供給裝置冷光源檢測。
更新時間:2025-12-17
滿足標準：這是一款根據標準yy0843-2011研發生產的一款用于測試氣腹機氣壓、流量、顯示耗氣量準確性等性能的標準檢測設備。
更新時間:2025-12-17
滿足標準：該設備是根據yy/t 0113《牙科學 復合樹脂耐磨耗性能測試方法》標準要求設計的。設備用途：用于檢測牙科復合樹脂材料的磨耗性能。
更新時間:2025-12-17
該設備是對醫用內窺鏡光學性能進行檢測的設備，是西安信捷依據標準《yy 0068.1—2008》研發設計生產的。
更新時間:2025-12-17
無影燈光色測試儀是依據標準yy 9706.241-2020醫用電氣設備 第2-41部分: 手術無影燈和診斷用照明燈的基本安全和基本性能用要求研發設計的。
更新時間:2025-12-17
ftpadv 臺式薄膜探針反射儀臺式薄膜探針反射儀ftpadv，ftpadv是一種具有成本效益的臺式反射膜厚儀解決方案，它具有非常快速的厚度測量。在100毫秒以內進行測量，其精度低于0.3nm，膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測量操作，該儀器包括了范圍廣泛的預定配方。
更新時間:2025-12-17
ftpadv expert 綜合薄膜測量軟件，光譜反射測量軟件ftpadv expert是專門為測量和分析r(λ)和t(λ)而設計的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數或折射率的光譜數據分析，這些參數都被加載到sentech光譜反射測量軟件中，使得能夠根據cauchy色散、drude振蕩給出的參數描述和擬合材料。
更新時間:2025-12-17
mdpinline 光伏測量儀器，一秒內完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動掃描硅晶片而設計的，它以每片不到一秒的時間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測光電導率定量測量少子壽命。憑借其緊湊的設計，mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統中。
更新時間:2025-12-17
mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統是為高產量生產用戶而設計的。對于一個面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費不到一分鐘。電阻率和導電類型變化的自動掃描可用于質量控制和監測爐子性能。面可以自動轉動，以便測量所有的四個側面。
更新時間:2025-12-17
mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統是為高產量生產用戶而設計的。對于一個面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費不到一分鐘。電阻率和導電類型變化的自動掃描可用于質量控制和監測爐子性能。面可以自動轉動，以便測量所有的四個側面。
更新時間:2025-12-17
德國sentech激動掃描系統mdppro,少子壽命測量儀器的特征在于以1mm分辨率對500mm的一個面在不到4分鐘內完成掃描。電阻率和少子壽命的測量完全無觸摸。利用微波檢測光電導率(mdp)同時測量少子壽命、光電導率、電阻率和p/n導電類型的變化。
更新時間:2025-12-17
sensol是sentech光伏產品組合中的自動大面積掃描儀器。自動表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol，可以監測大型玻璃基板上的沉積過程的均勻性，從而可以顯著減少儀器維護后重新開始生產的時間。
更新時間:2025-12-17
senperc pv 是perc電池制造質量控制的創新解決方案。senperc pv 測量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監測沉積過程的穩定性。由此，可以優化維護時間間隔。
更新時間:2025-12-17
德國sentech光伏測量儀器mdpspot，具有成本效益的臺式少子壽命測試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測量提供了一個測量點。 低成本桌面式壽命測量系統，用于手動操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品。可選的手動操作z軸用于厚度多達156毫米的樣品。標準軟件可輸出可視化的測量結果。
更新時間:2025-12-17
薄膜反射和透射的在線監測系統 rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測量是rt inline的設計特點。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作為內部參考測量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進行層沉積過程的在線監測。軟件接口可用于與主機的數據通信。
更新時間:2025-12-17
sentech ald實時監測儀是一種新型的光學診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內開發新工藝、實時研究ald循環中的反應機理是sentech ald實時監測儀的主要應用。
更新時間:2025-12-17
德國optosol r1 涂層吸收率發射率檢測儀，用于測量管狀或平面太陽能吸收涂層的定向熱發射度，其基礎是測量來自擴展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時間:2025-12-17
德optosol-k3 太陽能吸收率發射率檢測儀，k3型發射率檢測儀由一個被加熱到70℃的發光體（作為熱輻射源）和三個對波長在8-14μm范圍的光線敏感的探測器組成。 來自發光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內。檢測器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測量的是由樣品反射回來的輻射。
更新時間:2025-12-17
optosol absorber control k1 太陽能平板集熱器膜層吸收與發射率快速測量儀，
更新時間:2025-12-17
trisol aaa美國oai標準太陽能模擬器，低成本，標準太陽模擬器提供高度準直，均勻的光，幾乎任何材料或產品暴露在陽光下長時間或短時間的基本測試。根據配置，這些太陽能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時間:2025-12-17
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國oai太陽能模擬器，這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽模擬器可以提供一個范圍的空氣質量過濾器復制太陽能模擬太陽的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術可以使一個廣泛的接觸區域。
更新時間:2025-12-17
美國 d&s 發射率測量儀 ae1/rd1，是專門針對測量物體的輻射率設計的，ae1測量樣品最小直徑為2.25英寸（5.7cm）。可選附件ae-ad1和ae-ad3探測頭能使測量樣品最小直徑為1.0英（2.54cm），可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量，可以測量平行放置的多個樣品。
更新時間:2025-12-17
美國sonix 晶圓檢測設備 autowafe pro.為全自動晶圓檢測設計的機型，主要應用在bond wafer，mems 內部空洞、離層檢測，tsv量測方面。
更新時間:2025-12-17
美國泰克tek keithley半導體參數分析儀4200a-scs ，加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析研究。 業內領先性能參數分析儀，提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測量。
更新時間:2025-12-17
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ，非常智能地聯合了原子力顯微鏡的核心部件來實現最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎的設計, coreafm非常合理的實現了最優化的原子力顯微鏡的功能.
更新時間:2025-12-17
韓國ecopia霍爾效應測量系統hms3000，hms5000，用于研究半導體材料/光電材料的電學特性，可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數及載流子類型。
更新時間:2025-12-17
美國 mmr 霍爾效應測量系統 h5000，用于研究光電材料的電學特性，利用范德堡測量技術測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數及載流子類型。整套系統主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。
更新時間:2025-12-17
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達1m/s,采用國際領先的白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復性好的優點，該儀器可用于測量大尺寸樣品或質檢現場使用。
更新時間:2025-12-17
德國 yxlon 高分辨率ｘ射線檢測設備 y.cougar smt 平板探測器（標配） y.cheetah 高速平板探測器（標配）
更新時間:2025-12-17
美國royec芯片拾取及放置系統die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統
更新時間:2025-12-17
美國royec半自動型芯片拾取系統de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側面檢測,可選配芯片轉向功能.
更新時間:2025-12-17
美國rti自動特性圖示儀 mt century curve tracer，是一個性價比較高的曲線追蹤設備。最多到96個channel，提供4種型號可供客戶選擇，mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他rti機型一樣，mt century系統的設計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時間:2025-12-17
德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger，是一種實用的納米精度坐標和形貌綜合測量設備。由臺架、控制系統、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸，表面輪廓、粗糙度等，并可與超精密微加工、微組裝系統組合，進行在線檢測、質量控制等。
更新時間:2025-12-17
美國filmetrics 薄膜厚度測量系統f20，f30，f40，f50，f60，f3-xxt 系列，臺式薄膜厚度測量系統
更新時間:2025-12-17
美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求，更復雜元器件設計的新一代設備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產量,無需人員重復設置.
更新時間:2025-12-17
德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經在包括制藥，食品，農業和化學行業在內的所有行業的質量控制應用中得到了很好的應用。它為耗時的濕法化學方法和色譜技術提供了一種實用的替代方法。ft-nir無破壞性，不需要樣品制備或危險化學品，使其定量和定性分析快速可靠。
更新時間:2025-12-17
sentech ald實時監測儀是一種新型的光學診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內開發新工藝、實時研究ald循環中的反應機理是sentech ald實時監測儀的主要應用。
更新時間:2025-12-17
美國ogp光學式坐標測量儀 zip 250 ，5:1 accucentric 電動變焦透鏡，在每次放大變倍時自動校準，可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時間:2025-12-17
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