恒溫循環器產品及廠家
jipad低溫冷卻液循環泵采用智能控溫系統,數顯分辨率0.1℃，微機可修正溫度測量值偏差。循環泵可將槽內冷液輸出，冷卻或恒溫機外實驗容器或建立第二恒溫場。
更新時間:2025-12-16
恒溫恒濕培養箱/恒溫恒濕箱培養箱價格該系列產品有著精確的溫度和濕度控制系統,它為產業研究,生物技術測試提供所需要的各種環境模擬條件.因此可廣泛適用于藥物,紡織,食品加工等無菌試驗,穩定性檢查以及工業產品的原料性能,產品包裝,產品壽命等測試.
更新時間:2025-12-15
恒溫恒濕試驗機型號可以準確地模擬低溫、高溫、高溫高濕、低溫低濕等復雜的自然狀環境，實驗室一般用于植物培養、育種試驗；細菌、微生物培養、發酵、各種恒溫試驗、環境試驗、水體分析、bod測定、微生物培養物質變性試驗和培養基、血清、藥物等物品的儲存等。廣泛應用于醫療衛生、生物制藥、農業科研、環境保護等研究應用領域。你可以到東莞市偉煌試驗設備有限公司網站查看更多資料，還有產品的圖片。
更新時間:2025-12-15
whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗箱原理@工作原理whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗箱用來測試材料結構或復合材料以及各式產品，在瞬間下經高溫或低溫的連續環境下所能忍受的程度，藉以在*短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產品改進的依據或參考。
更新時間:2025-12-15
whtst-50l-40-3w深圳冷熱沖擊試驗箱產品說明書@2021年產品資料whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗箱用來測試材料結構或復合材料以及各式產品，在瞬間下經高溫或低溫的連續環境下所能忍受的程度，藉以在*短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產品改進的依據或參考。
更新時間:2025-12-15
whtst-50l-40-3w深圳冷熱沖擊試驗箱選購注意事項@選購指南whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗箱用來測試材料結構或復合材料以及各式產品，在瞬間下經高溫或低溫的連續環境下所能忍受的程度，藉以在*短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產品改進的依據或參考。
更新時間:2025-12-15
w-xd-225-t深圳氙燈老化試驗箱產品說明書@資料中心w-xd-225-t氙燈老化試驗箱可用于新材料的選擇、改變現有材料或評估材料組成變化后耐用性的變化試驗，可以很好的模擬在不同環境條件下，材料暴露在陽光下所產生的變化。
更新時間:2025-12-15
w-xd-225-t深圳氙燈老化試驗箱使用條件@企業資訊w-xd-225-t氙燈老化試驗箱可用于新材料的選擇、改變現有材料或評估材料組成變化后耐用性的變化試驗，可以很好的模擬在不同環境條件下，材料暴露在陽光下所產生的變化。
更新時間:2025-12-15
w-xd1-80-t氙燈老化試驗箱出租@2021年行業用w-xd1-80-t氙燈老化試驗箱可用于新材料的選擇、改變現有材料或評估材料組成變化后耐用性的變化試驗，可以很好的模擬在不同環境條件下，材料暴露在陽光下所產生的變化。
更新時間:2025-12-15
w-xd1-80-t氙燈老化試驗箱出租@市場報道w-xd1-80-t氙燈老化試驗箱可用于新材料的選擇、改變現有材料或評估材料組成變化后耐用性的變化試驗，可以很好的模擬在不同環境條件下，材料暴露在陽光下所產生的變化。
更新時間:2025-12-15
whts-1865偉煌品牌熱流儀使用說明書@公司動態whts-1865熱流儀適用于各類半導體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行ic 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗。
更新時間:2025-12-15
whts-1865偉煌品牌熱流儀氣源要求@新聞快訊whts-1865熱流儀適用于各類半導體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行ic 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗。
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whts-1855熱流儀操作說明@2021年產品資料whts-1855熱流儀適用于各類半導體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行ic 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗。
更新時間:2025-12-15
whts-1855熱流儀操作說明@企業動態whts-1855熱流儀適用于各類半導體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行ic 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗。
更新時間:2025-12-15
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更新時間:2025-12-15
whts-1865熱流儀型號@市場快訊whts-1865熱流儀適用于各類半導體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行ic 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗。
更新時間:2025-12-15
whts-1855熱流儀價格@市場報道whts-1855熱流儀適用于各類半導體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行ic 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗。
更新時間:2025-12-15
whts-1855熱流儀價格@公司動態whts-1855熱流儀適用于各類半導體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行ic 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗。
更新時間:2025-12-15
whts-1865熱流儀資訊@2021年產品說明書whts-1865熱流儀適用于各類半導體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行ic 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗。
更新時間:2025-12-15
whts-1865熱流儀資訊@儀器資料whts-1865熱流儀適用于各類半導體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行ic 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗。
更新時間:2025-12-15
whtst-150l-65-3w佛山冷熱沖擊試驗箱產品說明書@企業動態whtst-150l-65-3w冷熱沖擊試驗箱用來測試材料結構或復合材料以及各式產品，在瞬間下經高溫或低溫的連續環境下所能忍受的程度，藉以在*短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產品改進的依據或參考。
更新時間:2025-12-15
whtst-150l-65-3w佛山冷熱沖擊試驗箱選購注意事項@選購指南whtst-150l-65-3w冷熱沖擊試驗箱用來測試材料結構或復合材料以及各式產品，在瞬間下經高溫或低溫的連續環境下所能忍受的程度，藉以在*短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產品改進的依據或參考。
更新時間:2025-12-15
whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗箱出租@市場報道whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗箱用來測試材料結構或復合材料以及各式產品，在瞬間下經高溫或低溫的連續環境下所能忍受的程度，藉以在*短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產品改進的依據或參考。
更新時間:2025-12-15
whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗箱出租@新聞快報whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗箱用來測試材料結構或復合材料以及各式產品，在瞬間下經高溫或低溫的連續環境下所能忍受的程度，藉以在*短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產品改進的依據或參考。
更新時間:2025-12-15
whtst-50l-40-3w冷熱沖擊試驗箱快訊@公司動態whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗箱用來測試材料結構或復合材料以及各式產品，在瞬間下經高溫或低溫的連續環境下所能忍受的程度，藉以在*短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產品改進的依據或參考。
更新時間:2025-12-15
whtst-50l-40-3w冷熱沖擊試驗箱快訊@新聞快報whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗箱用來測試材料結構或復合材料以及各式產品，在瞬間下經高溫或低溫的連續環境下所能忍受的程度，藉以在*短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產品改進的依據或參考。
更新時間:2025-12-15
whtst-150l-65-3w冷熱沖擊試驗箱操作說明@2021年產品說明書whtst-150l-65-3w冷熱沖擊試驗箱用來測試材料結構或復合材料以及各式產品，在瞬間下經高溫或低溫的連續環境下所能忍受的程度，藉以在*短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產品改進的依據或參考。
更新時間:2025-12-15
whtst-150l-65-3w冷熱沖擊試驗箱操作說明@技術資料whtst-150l-65-3w冷熱沖擊試驗箱用來測試材料結構或復合材料以及各式產品，在瞬間下經高溫或低溫的連續環境下所能忍受的程度，藉以在*短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產品改進的依據或參考。
更新時間:2025-12-15
w-dx2-512l-t水冷氙燈老化試驗箱品牌介紹@2021年采購推薦w-dx2-512l-t水冷氙燈老化試驗箱可用于新材料的選擇、改變現有材料或評估材料組成變化后耐用性的變化試驗，可以很好的模擬在不同環境條件下，材料暴露在陽光下所產生的變化。通過材料試樣暴露在氙弧燈的光照及熱輻射下進行老化試驗，來評價在高溫光源作用下某些材料的耐光、耐候性能，主要用于汽車、涂料、塑膠、顏料、粘合劑、織物等。
更新時間:2025-12-15
w-dx2-512l-t水冷氙燈老化試驗箱應用范圍@新聞快訊w-dx2-512l-t水冷氙燈老化試驗箱可用于新材料的選擇、改變現有材料或評估材料組成變化后耐用性的變化試驗，可以很好的模擬在不同環境條件下，材料暴露在陽光下所產生的變化。通過材料試樣暴露在氙弧燈的光照及熱輻射下進行老化試驗，來評價在高溫光源作用下某些材料的耐光、耐候性能，主要用于汽車、涂料、塑膠、顏料、粘合劑、織物等。
更新時間:2025-12-15
uv老化試驗箱價格保養@企業動態uv老化試驗箱可模擬自然氣候中的紫外、雨淋、高溫、高濕、凝露、黑暗等環境條件，通過重現這些條件，合并成一個循環，并讓它自動執行完成循環次數。這就是紫外線老化試驗箱的工作原理。
更新時間:2025-12-15
uv老化試驗箱價格保養@技術文獻uv老化試驗箱可模擬自然氣候中的紫外、雨淋、高溫、高濕、凝露、黑暗等環境條件，通過重現這些條件，合并成一個循環，并讓它自動執行完成循環次數。這就是紫外線老化試驗箱的工作原理。
更新時間:2025-12-15
whts-1865熱流儀產品說明書@新聞快訊whts-1865熱流儀適用于各類半導體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行ic 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗。
更新時間:2025-12-15
whts-1865熱流儀選購注意事項@市場快訊whts-1865熱流儀適用于各類半導體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行ic 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗。
更新時間:2025-12-15
whts-1855高低溫氣流儀品牌廠家@采購資訊whts-1855高低溫氣流儀適用于各類半導體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行ic 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗。
更新時間:2025-12-15
whts-1855高低溫氣流儀使用說明@技術資料whts-1855高低溫氣流儀適用于各類半導體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行ic 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗。
更新時間:2025-12-15
whts-1865熱流儀出租@市場快訊whts-1865熱流儀適用于各類半導體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行ic 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗。
更新時間:2025-12-15
whts-1865熱流儀出租@產品頻道whts-1865熱流儀適用于各類半導體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行ic 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗。
更新時間:2025-12-15
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