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自動抗干擾介質(zhì)損耗測試儀是一種先進的測量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（cx）。它淘汰了qsi高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，抗干擾能力強， 測試時間短等優(yōu)點，是我廠的第三代智能化介質(zhì)損耗測試儀。

e型介質(zhì)損耗測試儀用于現(xiàn)場抗干擾介損測量，或試驗室精密介損測量。儀器為一體化結(jié)構(gòu)，內(nèi)置介損電橋、變頻電源、試驗變壓器和標(biāo)準(zhǔn)電容器等。采用變頻抗干擾和傅立葉變換數(shù)字濾波技術(shù)，全自動智能化測量，強干擾下測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。測量結(jié)果由大屏幕液晶顯示，自帶微型打印機可打印輸出

日立高新離子研磨裝置im4000（hitachi ion milling system im4000 ）具有斷面加工和平面研磨功能的混合儀器！日立高新離子研磨裝置im4000（hitachi ion milling system im4000 ）的混合模式帶有兩種研磨配置：斷面加工：將樣品斷面研磨光滑，便于表面以下結(jié)構(gòu)高分辨成像。

afm5500m是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達臺的全自動型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換，激光對中，測試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供全自動操作平臺。新開發(fā)的高精度掃描器和低噪音3軸感應(yīng)器使測量精度大幅提高。并且，通過sem-afm共享坐標(biāo)樣品臺可輕松實現(xiàn)同一視野的相互觀察分析。