基本原理 超聲波測量厚度的原理與光波測量原理相似，探頭發射的超聲波脈沖到達被測物體并在物體中傳播，到達材料分界面時被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。 性能指標 測量范圍： 0.75mm～300.0mm 顯示分辨率：可選擇0.1/0.01mm 測量精度： 0.75mm～9.99mm； ±0.05mm 10.0mm～99.99mm（±0.5%H+0.01）mm 100.0mm～300.0mm（±1%H+0.1）mm 聲速調節范圍： 1000 m/s～9999m/s 管材測量下限（鋼）：Φ15mm×2.0mm 最小厚度值捕捉模式：可選擇顯示當前厚度值或最小厚度值 數據輸出：RS232接口，可與TA220S微型打印機或PC連接 數據存儲：可存儲500個測量值和五個聲速值 報警功能：可設置限界，對限界外的測量值能自動蜂鳴報警 使用環境溫度：不超過60℃ 電源：二節AA型1.5V堿性電池 工作時間：可達100小時 外形尺寸：152mm×74 mm×35 mm 重量：370g 基本配置 主 機 1 5MHz探頭 1 耦合劑 1 主機保護套 1 使用說明書 1 手提箱 1
WHT-10型防水卷材測厚儀（路騰儀器）防水卷材測厚儀是根據GBl8242-2000及GBl8243-2000標準要求專為防水卷材厚度測量而設計制造。可隨身攜帶，手持測量。主要技術參數： 1、測量范圍：0-10mm 2、上測直徑：Φ10±0.05m 3、分 度 值：0.01mm 4、施加壓力：0.02MPa
TT220涂層測厚儀產品介紹：TT220涂層測厚儀采用了磁性測厚法，是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精頦地進行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量。可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小，測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。
TT220涂層測厚儀主要功能 涂層測厚儀可進行零點校準及二點校準。 涂層測厚儀可對測頭進行基本校準。 涂層測厚儀設有五個統計量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數（NO）、涂層測厚儀標準偏差（S.DEV）。 涂層測厚儀可存貯和統計計算15個測量值。 涂層測厚儀具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）。 涂層測厚儀具有自動關機功能。 涂層測厚儀刪除功能：對測量中出現的單次可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量。 涂層測厚儀操作過程有蜂鳴聲提示。 有欠壓指示功能。 有錯誤提示功能。
TT220涂層測厚儀主要技術指標 涂層測厚儀測量原理：磁性法 涂層測厚儀測量范圍: 1～1250μm 涂層測厚儀測量精度：±（3%H+1）μm（零點校準） ±[(1～3)%H+1] μm（二點校準）
QUC-200F數顯式涂層測厚儀出廠價3750元，電函咨詢優惠價供應！QUC-200F數顯式涂層測厚儀用途概述：QUC-200F數顯式涂層測厚儀是用電池供電的便攜式測量儀器，采用磁感應原理。測量方法符合國際標準ISO2178和國家標準GB4956.它采用計算機技術，無損檢測技術等多項先進技術，無需損傷被側體就能準確地測量出它的厚度。F型側頭可直接測量導磁材料（如：鋼鐵、鎳）表面上的非導磁覆蓋層厚度（如：油漆、塑料、搪瓷、銅、鋁、鋅、鉻等）。QUC-200F數顯式涂層測厚儀主要指標：1.顯示器：4位10mm液晶2.測試范圍：0～1250nm ；分辨率：0.1nm/1nm3.電源：4節7號電池4.重量：81g（不包括電池）
品牌TESTER SANGYO
TH-104 紙、薄膜厚度測定儀
本機是TH-101,102系列的數碼萬分表類型。因為是數碼類型、自動回零、有頂峰抓頭兒等的功能、校正也簡便。根據選項能打印所需求的數據。
配 置
紙用
型 式 精 度 行 程 載 重 加壓尺寸
A 型 1 /1000mm 8mm 550g /cm 14.3mm￠
薄膜用
型 式 精 度 行 程 載 重 加壓尺寸
A 型 1 /1000mm 8mm 125g 5mm￠
參考規格……JISP-8111 (紙用) JISK-6781(薄膜用)
付屬品 ……專用回收箱
機體尺寸……約(正面的寬度)9x(深度)14x(高度)27ｃｍ
產品說明書鐵基/非鐵基涂層測厚儀參 數 功能 測量導磁物體上的非導磁涂層和非磁性金屬基體上的非導電覆蓋層的厚度測量范圍（標準） 0～1000um（實際最大可達1250um）分辨率 0.1/1 度 ±（1～3%n）或±2um 電源 4節5號電池 外形尺寸 161X69X32 應用:用磁性傳感器測量鋼、鐵等鐵磁質金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如：漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。用渦流傳感器測量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。
德國原裝進口手持式油膜厚度測量儀,油膜測厚儀,油膜厚度測量系統,油膜厚度測試儀,油膜厚度測試系統，廣泛用于德國大眾汽車公司, 鋼鐵制造和機械制造企業.油膜厚度測量范圍：0.2－－-6g/m^2 （約等于微米）。詳情瀏覽：http://www.f-lab.cn/analytical-instruments/508.html這款德國原裝進口的油膜厚度測量儀,油膜測厚儀,油膜厚度測量系統,油膜厚度測試儀,油膜厚度測試系統，便攜，方便使用，非常成功地用于油膜厚度的測量，機械部件的上油、油潤控制，非常廣泛地應用于汽車制造，機械制造領域。這款油膜測厚儀基于紅外濾波片技術制造，專業為工業和科研環境使用而設計。它圖形化顯示油膜厚度，可選參數和校準選擇等選項，更為直觀地給出油膜厚度結果，方便操作。詳情瀏覽：http://www.f-lab.cn/analytical-instruments/508.html其中校準功能給出9種金屬類型: 冷軋鋼 （cold rolled steel）,熱鍍鋅鋼 （galvannealed steel）熱浸鍍鋁,熱浸滲鋁，熱鍍鋁 （hot dip aluminized ）熱浸鍍鋅,熱浸滲鋅，熱鍍鋅 （ hot dip galvanized）電鍍鋅 （純潔和磷化，electro galvanized）多鋅環氧樹脂, 富鋅環氧樹脂（zinc enriched epoxy ）鋁 （光面和 EDT, aluminium, mill finish ａnd EDT）其他類型的金屬表面可以根據用戶要求添加。這款油膜厚度測量儀,油膜測厚儀,油膜厚度測量系統,油膜厚度測試儀,油膜厚度測試系統的外殼采用堅固的橡膠覆蓋技術，采用可充電電池供電。油膜厚度測量儀,油膜測厚儀,油膜厚度測量系統,油膜厚度測試儀,油膜厚度測試系統參數：油膜厚度測量范圍：0.2－－-6g/m^2 （約等于微米）。供電系統：7.2V可充電Ni/MH電池，電池工作時間約為9小時,配備電池供電器。連接方式：RS232接口連接計算機用于數據交換和控制,顯示：圖像化顯示，可選擇金屬類型,薄膜厚度以及誤差和平均厚度, 工作狀態,電池容量指示控制：電源開/關, 觸發, 金屬表面類型選擇按鈕和菜單導航機械部分：外殼：橡膠覆蓋鋁制圓柱行外殼尺寸：長度22.8cm， （含手柄33.5cm）, 直徑12.8cm重量：3.4kg （含電池）中國的進口光學精密儀器供應商！
Email: info@felles.cn 或 felleschina@outlook.comWeb: www.felles.cn （激光光學精密儀器網） www.felles.cc （綜合性尖端測試儀器網） www.f-lab.cn （綜合性實驗室儀器網）
專業代理美國Filmetrics薄膜測厚儀F20
供應上海/揚州/蘇州/無錫/南京/天津/北京/武漢/西安/杭州/濟南/廣州/深圳等地
美國Filmetrics公司生產的薄膜測厚儀是以F20為平臺，具有其系列的所有優點：利用光譜反射的原理，測量精度達到埃級的分辨率，測量快，操作簡單及最具性價比的薄膜厚度測量設備。Filmetrics公司的設備測量范圍從近紅外到紫外線，波長范圍從200nm到1700nm，測量厚度從30A到500um范圍。凡是光滑的，透明或半透明的，或是對光有吸收的膜層都可以測量。
F20是Filmetrics公司的標配專用儀器，以其低廉的價格，優越的性能贏得客戶的好評，它們在全世界被用于幾千種用途。厚度和折射率在幾秒鐘內就能得到測量。就像我們所有的臺式儀器一樣，F20需要連接到您裝有Windows計算機的USB端口上并在數分鐘內即可完成設定。
不同的F20膜厚測量儀主要是根據波長范圍來加以區分的。標準的F20是我們最為普遍的產品。較短的波長，（例如F20-UV），一般用于測量較薄的厚膜，而較長的波長（例如F20-NIR），則可以用來測量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。
產品應用：
半導體行業：光阻、氧化物、氮化物
LCD行業：液晶盒間隙厚度、Polyimides
光電鍍膜應用：硬化膜、抗反射膜、濾波片
LED行業：用F20來測量透明的藍寶石上的光刻膠，ITO，多層氧化硅氧化鈦等薄膜厚度，該機操作簡易，毫秒間就能測量出準確的數據。
具體型號及技術要求歡迎來電咨詢。
具體型號及技術要求歡迎來電咨詢
聯系方式：
蘇州諾威特測控科技有限公司
Add：中國蘇州市高新技術開發區金楓南路198號
聯系人：鄒小姐
Tel:18913500435
Fax:
E-mail:info@novtec.hk
http://www.novtec.hk
公眾微信推薦：諾威特光伏（novteccs）諾威特汽車（novtecqc）諾威特光電（sznovtec）
| 基本功能 | 1，測試單、多層透光薄膜的厚度、折射率以及吸收系數 2，實現薄膜均勻性檢測 3，實現反射、投射以及顏色測量 |
| 產品特點 | l 強大的數據運算處理功能及材料NK數據庫； l 簡便、易行的可視化測試界面，可根據用戶需求設置不同的參數； l 快捷、準確、穩定的參數測試； l 支持多功能配件集成以及定制； l 支持不同水平的用戶控制模式； l 支持多功能模擬計算等等。 |
| 系統配置 | l 型號：SR100R l 探測器： 2048像素的CCD線陣列 l 光源：高穩定性、長壽命的鹵素燈 l 光傳送方式：光纖 l 臺架平臺：特殊處理鋁合金，能夠很容易的調節樣品重量，200mmx200mm的大小 l 軟件： TFProbe 2.2版本的軟件 l 通訊接口：USB的通訊接口與計算機相連 l 測量類型：薄膜厚度，反射光譜，折射率 l 電腦硬件要求：P3以上、最低50 MB的空間 l 電源：110–240V AC/50-60Hz，1.5A l 保修：一年的整機及零備件保修 |
| 規格 | l 波長范圍：250nm到1100 nm l 光斑尺寸：500μm至5mm l 樣品尺寸：200mmx200mm或直徑為200mm l 基板尺寸：最多可至50毫米厚 l 測量厚度范圍*：2nm～50μm l 測量時間：最快2毫秒 l 精確度*：優于0.5％（通過使用相同的光學常數，讓橢偏儀的結果與熱氧化物樣品相比較） l 重復性誤差*：小于1 Ǻ |
| 可選配件項 | l 用于傳遞和吸收測量的傳動夾具（SR100RT) l 最低可測量直徑為5µm大小的微光斑(MSP100) l 在多個位置下，多個通道用于同時測量 (SR100xX) l 在超過200或300毫米晶片上所進行的統一測繪（SRM100-200/300） |
| 應用領域 | 主要應用于透光薄膜分析類領域： l 玻璃鍍膜領域（LowE、太陽能…） l 半導體制造（PR，Oxide, Nitride…) l 液晶顯示（ITO，PR，Cell gap...） l 醫學，生物薄膜及材料領域等 l 油墨，礦物學，顏料，調色劑等 l 醫藥，中間設備 l 光學涂層，TiO2, SiO2, Ta2O5... .. l 半導體化合物 l 在MEMS/MOEMS系統上的功能性薄膜 l 非晶體，納米材料和結晶硅 |