主要特點
獨特的設計使得Q2 ION的重量只有不到20kg，可輕易攜帶到周邊的場所進行現場分析工作。除此之外，儀器還有專用配套的行李箱可供用戶選擇，以方便儀器的攜帶及運輸。 Q2 ION采用了最新專利技術—平面視場CCD光學系統，該技術使得Q2 ION的設計突破了傳統光譜的桎梏。光學系統所配備的動態溫度補償技術（AAC），確保儀器即便在10°C至45°C之間的外界溫度變化下也具有極其優異的穩定性。
創新點
Q2直讀光譜儀采用了許多最新的技術，是一臺科技含量非常高的儀器，主要有以下幾個方面。（1）平面視場CCD光學系統Q2直讀光譜儀采用了布魯克的最新專利技術——平面視場CCD光學系統，通過該技術可以直接將色散后的所有譜線聚焦于線狀CCD上,并完整收集所有譜線信息。此外Q2使用的是最新一代的非鍍膜CCD檢測器，該檢測器性能不會受涂層的影響,并可以延長使用壽命。（2）動態溫度補償技術在Q2直讀光譜儀中還采用了一項新技術——動態溫度補償技術（AAC），在光譜儀的設計中，保證所有材料的熱脹冷縮系數嚴格匹配，確保了儀器即便在10℃至45℃的外界溫度變化下也具有極其優異的穩定性，該技術的應用簡化了儀器結構,提升了儀器性能,開創了光譜儀全新的設計理念。
技術參數
專利光學系統非渡膜CCD檢測器，具有最低的暗電流平面光柵波長覆蓋范圍：170-685nm分辨率：30pm氬氣驅氣以確保最佳光通量。譜圖解析技術動態溫度補償技術，確保在10至45度的外界溫度下具有最佳的穩定性
分析方法組件可應用于各種不同基體覆蓋所有主要元素及合金類型適應未來升級需要
激發源免維護，兩相ＰＷＭ激發源頻率50＇－10＇0＇0＇Ｈｚ
火花臺免維護檢測期間氬氣消耗2．5ｌ／ｍｉｎ
軟件給予Ｗｉｎｄｏｗｓ的操作軟件用戶分級權限定性及定量分析操作軟件含分析數據庫及辦公軟件接口牌號庫功能電源10＇0＇－240＇Ｖ（50＇／60＇Ｈｚ）檢測期間20＇0＇Ｗ，待機時50＇Ｗ16Ａ慢融保險絲或25Ａ慢融保險絲
尺寸長Ｘ寬ｘ高：440＇ｍｍ×390＇ｍｍ×220＇ｍｍ重量：19ｋg
意大利GNR，最”耐用“的光譜儀
直讀光譜儀分辨率的CCD：3648像素
如同數碼相機一樣，直讀光譜儀的CCD像素越高就能夠獲得越清晰的元素譜線，對譜線易受干擾的鋁合金中的Si，合金鋼中的B, Sn，黃銅中的Zn等元素，使用越高分辨率的CCD能夠獲得更穩定的測樣結果
直讀光譜儀精密度光柵：3600條/mm
配合3648像素CCD，確保同類型CCD直讀光譜儀中精密度。
GNR創新光源設計：芯片式電阻設計
根據不同的元素設置不同的火花電阻，使得火花放電更加穩定，極大地提高了紫外區元素的測樣精度，比如P, S, B等普通直讀光譜儀難以獲得穩定結果的元素。
火花參數可自主調節，方便檢測特殊樣品
不同的火花參數用于激發不同的樣品，比如GNR用戶可根據樣品粗細、厚薄設計不同激發參數來檢測不同的樣品。
真正的全譜直讀， 441條元素譜線可檢測最多種類的合金
GNR具有直讀光譜儀行業最深厚的應用經驗（詳見GNR公司歷史），在3648像素CCD的支持下，可以檢測441條元素譜線。
由于行業內最豐富的譜線庫，ESAPORT可以檢測Fe基8種材料、Al基7種材料、Cu基8種材料。
ICP發射光譜儀作為一個分析儀器應用范圍很廣。它的特點是具有ppb級別的檢測能力，5-6個數量級的檢測濃度范圍，并且可以批量處理多種元素。隨著ICP的廣泛使用，人們對縮短分析時間和改善復雜基體樣品檢測能力的需求日益增加。為此，我們開發了兩種類型的產品，使用半導體檢測器的全譜直讀型以縮短分析時間，和高分辨順序掃描型產品改善檢出限。 島津ICPE-9000全譜直讀型產品，包括最新的ICPEsolution軟件，與傳統理念大相徑庭。充分利用ICPE-9000的多種功能，樣品測定中的問題可以用多種方式進行考察。分析助手功能可以自動進行測定元素的波長選擇和共存元素的干擾校正，而以前這些工作依賴于分析工作者的經驗。難以測定的復雜基體樣品的簡便準確測定也成為可能。•中階梯光柵分光器和CCD檢測器—高通量•采用真空光室—減少了光譜儀吹掃氣的需求•配置了小炬管—低成本運行•長期測定也能保持卓越的穩定性—非常穩定的真空光譜儀
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分析原理 能量色散X射線熒光分析法
分析元素 Na～U任意元素，鉛（Pb）、汞（Hg）、六價鉻（Cr6＋）、多溴聯苯（PBB）和多溴聯苯醚（PBDE）中的溴，直接分析出六價鉻（Cr6＋）含量
工作條件 工作溫度：10-30℃相對濕度：≤70％電源：AC 220 V±10 ％、50／60 Hz
技術指標 檢出下限（Cd／Pd）：Cd／Cr／Hg／Br≦2 ppm，Pb≦5 ppm 樣品形狀：任意大小，任意不規則形狀 樣品類型：塑膠／金屬／薄膜／粉末／液體 X射線管：靶材／Mo 管電壓／5～50kV 管電流／最大1～1000μA 照射直徑：2、5、8mm 探測器：Si（PIN）半導體 高分辨率探測器濾光片：八種新型濾光片自動選擇 樣品定位：微動載物平臺（選配） 樣品觀察：30倍彩色CCD攝像機 微區分析：X光聚焦微區分析系統（選配） 軟件定量分析：α系數法 WINDOWS XP 數據處理：主機／PC機／內存／256 MB 以上／硬盤／40 GB 以上系統：Windows XP正版功率：1.1kW 重量：40Kg外形尺寸：610（W）×750（D）×500（H）mm
標準配置和隨機標準附件 標準配置： 電致冷半導體探測器 X光光管 高低壓電源 放大電路 大樣品腔 高精密攝像頭 a系數法軟件 計算機（P4品牌機，液晶顯示器） 打印機（彩色噴墨打印機） 測試用樣品杯2個，測試用塑料薄膜數張 標 樣：歐盟標樣EC680、EC681各一片、銀校正標樣一片。