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一種緊湊，低成本，基于微處理器的薄膜厚度監視器，可與瓊脂系列涂層單元配合使用。這是一款緊湊型，低成本，基于微處理器的薄膜厚度監測儀，適用于瓊脂系列涂層裝置。*初設計用于電子顯微鏡應用，它也適用于復雜的沉積系統。雙存儲器存儲兩種沉積材料的參數。該系統使用安裝在晶體支架中的6mhz石英晶體振蕩器。控制單元具有數字讀數，顯示直接以納米為單位的涂層厚度，分辨率為0.1nm。還可以輸入加工因子以補償樣品和晶體位置的差異。膜厚監測儀的測量范圍為0至999.9nm，并具有晶體壽命。升級套件允許在兩個瓊脂涂層機之間共享一個控制單元。